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微電路元件可靠性水蜜桃视频污在线观看方法液槽衝擊水蜜桃视频污在线观看箱
目的：確定元件暴露於高低溫極值下，以及高低溫極值交替衝擊下所具有的抗禦能力。
符合標準：MIL-STD-883 推力標準
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將水蜜桃视频污在线观看樣品置於低溫箱中，此時，低溫箱的溫度已調至表1規定的極值溫度，並在溫度下按表2規定的時間進行保溫。
保溫時間到，在5min內將水蜜桃视频污在线观看樣品從低溫箱格至高溫箱中，此時，高溫箱的溫度已調
至表1規定的極值溫度，並在此溫度下按表2規定的時間進行保溫，
保溫時間到，在5min內將水蜜桃视频污在线观看樣品從高溫箱移至低溫箱中。此時，低溫箱的溫度已調至4.3.1款的極值溫度，並在此溫度下按4.3.1款的水蜜桃视频污在线观看時間進行保溫。
初的5次循環應連續地進行。5次循環後，在任何一次循環完成之後都可以中斷水蜜桃视频污在线观看。再恢複試。驗之前可允許水蜜桃视频污在线观看樣品恢複到水蜜桃视频污在线观看的標準大氣條件。
在測試階段，不同的推力值會在不同的溫度環境下應用於待測定的元件上，包括低溫(-196°C至+85°C)和高溫(-55°至+125°C)。MIL-STD-883 規定，低溫部分應用的推力值為25g(0.25 ms)，峰峰值和保持時間分別為50g(1ms)和11 ms:高溫部分應用的推力值為15g(0.15 ms)，峰峰值和保持時間分別為30g(0.3 ms)和6ms。此外，MTL-STD-883 規定，在完成推力測試前，還必須記錄和存檔測試要求，以確保能夠進行正確分析和結果報告。
在恢複階段，完成推力測試之後，用幹測試的微電路元件應當嚴格按照建立的標準進行複原活動，以保證受到的捐傷達到小值。通過 MIL-STD-883 推力標準的測試，可以溯源檢測微電路元件的可靠性，同時確保微電路元件的性能，減少設備出現故障的風險，提高設備的可用性。因此，現代微電路製造廠紛紛采用 MIL-STD-883 推力標準來保證其產品的可靠性和可用性。
